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赛普斯 激光诱导击穿光谱仪/手持式光谱仪/手持式测碳合金光谱仪Z-200 C+

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手持式测碳合金光谱仪Z-200 C+ 是世界上能够分析碳素钢和不锈钢中碳含量的手持式分析仪。 Z-200 C+ 采用激光诱导击穿光谱技术(HH-LIBS)，使用波长为1064纳米，频率为50HZ的脉冲激光，每束脉冲激光功率为5.5毫焦耳。内置分光仪，分析波谱范围为:190纳米-620纳米。使用内置氩气。精确可检测出0.015%的C。

测碳分析软件包介绍：

l 不锈钢C含量检测专业分析曲线；可检测的元素包括：C, Si, Al, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Nb, Mo, Se, W.

l 铁基合金C含量检测专业分析曲线； 可检测的元素包括：C, Si, Al, Ti,V, Cr, Mn, (不同含量Fe ), Co, Ni, Cu, Nb, Mo, W, Pb.

l C 含量标配的检测范围 0-1%. 并提供扩展功能和建模软件ProfileBuilder 可在台式电脑或是平板电脑上运行，通过ProfileBuilder当C含量高于1%时候用户可以自建针对高含量C的分析曲线。

l 碳当量公式和计算(CE) , Mn:C比例及剩余元素总量

l 碳含量校验校准样品和谱线漂移校正样品.

任何现有的Z-200型都可以升级到Z-200 C或Z-200 C+。


检测精度

检测精度误差值
C含量0.02%±0.005%
C含量0.2%±0.01%


技术规格

重量1.82kg带电池
尺寸21*30*12（cm)
激发源5-6 mj/脉冲，50赫兹重复频率，1064 nm激光源
光谱/范围多CCD光谱仪:190 nm - 950 nm。
可用的应用程序Alloy  Mode / Empirical mode/ Profile Builder/ Element Pro Mode
光谱数据采集在无门或门禁操作中收集的频谱数据，用户可设置的门控延迟
操作/氩气净化在氩净化环境中操作的用户可更换的氩气瓶。氩罐在更换前提供大约600个测试。
分析范围全元素分析
激光光栅将激光对准需检测位置进行定向分析。光栅图形16 x 16网格，256个位置。
电子信号处理ARM Cortex-A9双核/1.2 GHz内存：1 GB DDR2内存，1 GB内存
自动对焦计算机控制手动或自动调整激光聚焦样本位置
供电可充电锂电池，交流电源。
显示5"彩色触摸屏智能手机显示屏-PowerVR SGX540 3D图形
数据存储8 GB SD
通讯-数据传输Wifi,蓝牙,USB。能连接到大多数设备，包括SciAps ProfileBuilder PC软件。
  


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